根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪

• 高端半导体检测器（PIN和SDD） 确保出色的检测精度和高分辨率

• XAN250和252：用于测量铝，硅或硫之类的轻元素；

• 准直器：固定或4种可切换，最小测量点约为0.3mm

• 基本滤片：固定或6种可切换

• 固定样品支架或手动XY载物台

• 摄像头可轻松定位最佳测量位置

• 样品高度最多17厘米;

• 牙科合金的无损分析，银测试

• 多层镀层测试

• 电子和半导体行业中厚度为10nm以上的功能涂层的分析

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• 消费者保护中的痕量分析，例如测试玩具中的铅含量

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• 根据珠宝业和炼油厂最高精度要求测量金属合金含量